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X射線晶體定向儀利可配不同樣品臺

更新時間:2016-04-22點(diǎn)擊次數(shù):3829
  
  
  X射線晶體定向儀利X射線衍射原理,精密快速地測定天然和人造單晶(壓電晶體、光學(xué)晶體、激光晶體、半導(dǎo)體晶體)的切割角度,與切割機(jī)配備可用于上述晶體的定向切割,是精密加工制造晶體器件*的儀器。該儀器廣泛應(yīng)用于晶體材料的研究、加工、制造行業(yè)。
  
  X射線晶體定向儀測量精度±30″,顯示方式為數(shù)字式,zui小讀數(shù)為10″。
  
  X射線晶體定向儀改進(jìn)測角儀結(jié)構(gòu),增加了承重軌道,X光管管套,支架體,樣品臺升高,可測量1~30公斤,2~8英寸直徑的樣品。角度顯示:數(shù)字方式,測量精度±30″。
  
  X射線晶體定向儀產(chǎn)品特點(diǎn)
  
  操作簡便,數(shù)字顯示角度,容易觀察。顯示器可在任一位置調(diào)零,便于顯示晶片角度偏差值。雙測角儀可同時工作,提高了效率。具有峰值放大的特殊積分器,提高了檢測精度。X光管與高壓電纜一體化,增加高壓可靠性,探測器高壓采用DC高壓模塊,真空吸氣樣品板,提高了測角精度與速度。
  
  使用條件
  
  ◆環(huán)境溫度:2℃~30℃;
  
  ◆相對濕度:不大于70%;
  
  ◆供電線路中不得有電焊機(jī),高頻爐等設(shè)備引起的高頻和電弧干擾;
  
  ◆電源:單向交流220V,50Hz,電源電壓波動不大于10%,電源容量不低于0.5kVA,有良好的接地裝置,接地電阻不大于4Ω。
  
  X射線晶體定向儀可配不同樣品臺:
  
  ◆TA型樣品臺
  
  按圓棒狀晶體所設(shè)計(jì),樣品臺帶有承重軌道,可測重1~30公斤,直徑2~6英寸(可增加到8英寸)晶棒,在樣品臺上加有真空吸氣裝置。該型號測角儀可測量棒狀晶體的參考面,也可測量片狀晶片的表面。
  
  ◆TB型樣品臺
  
  按圓棒狀晶體所設(shè)計(jì),樣品臺帶有承重軌道,并加有V型支承導(dǎo)軌,可測重1~30公斤,直徑2~6英寸(可增加到8英寸),長度為500mm的晶棒,在樣品臺上加有真空吸氣裝置,該型號測角儀可測量棒狀晶體的端面,也可測量片狀晶片的表面。
  
  ◆TC型樣品臺
  
  主要用于硅及藍(lán)寶石等單晶片的外圓參考面的檢測,吸氣盤上接收X射線的位置采用開放式設(shè)計(jì),克服了吸氣盤遮擋X射線和定位不準(zhǔn)的問題,滿足不同規(guī)格晶片參考邊的檢測。樣品臺的吸氣泵可把2~8英寸的晶片吸住,使檢測更加準(zhǔn)確。
  
  ◆TD型樣品臺
  
  主要用于硅和藍(lán)寶石等晶片的多點(diǎn)測量,晶片可在樣品臺上手動旋轉(zhuǎn),如0°、90°、180°、270°等,可滿足客戶對晶片的特殊測量需求。
  
  
服務(wù)熱線 0415-3141333
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