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工業(yè)CT技術(shù)在航空發(fā)動機單晶葉片壁厚測量中的應(yīng)用

更新時間:2016-07-22點擊次數(shù):4239

工業(yè)CT技術(shù)在航空發(fā)動機單晶葉片壁厚測量中的應(yīng)用

 

在航空發(fā)動機葉片的眾多技術(shù)指標中,葉片壁厚是一個非常關(guān)鍵的指標。目前,葉片壁厚的測量方法主要有超聲測厚法、渦流掃描測量法、電磁霍爾效應(yīng)法等。其中,渦流掃描測量法因葉片外形的原因,檢測復(fù)雜,容易造成測量誤差;電磁霍爾效應(yīng)法重復(fù)定位性低,無法得到一致性較高的測量結(jié)果,但在單晶葉片和型腔復(fù)雜葉片的應(yīng)用中具有一定局限性:單晶材料的各向異性,造成超聲波速的各向異性,給單晶葉片壁厚的超聲測厚時入射聲束與晶體取向的夾角關(guān)系,可對單晶葉片超聲測厚中的聲速進行修正,但過程比較復(fù)雜,探頭定位困難,測量結(jié)果的一致性較差;更為糟糕的是,當(dāng)單晶葉片的型面比較復(fù)雜是,入射波在葉片內(nèi)壁的反射比較復(fù)雜,不能簡單通過反射波得到實際聲波的傳播路徑,也就不能準確地測量單晶葉片壁厚。

工業(yè)CT技術(shù)的主要特點有:不受試件材料種類、形狀結(jié)構(gòu)及表面狀況等限制;能給出與試件的幾何結(jié)構(gòu)、組分及密度特性相對應(yīng)的斷層圖像,且成像直觀、目標特征不受周圍細節(jié)的遮擋;可方便地測量內(nèi)部結(jié)果尺寸等。

這些特點正好彌補了超聲測厚法檢測單晶材料的不足,可很好地解決單晶葉片壁厚測量的問題。從單晶葉片不同截面的CT圖像可清晰的看到單晶葉片的內(nèi)部結(jié)構(gòu),且可進行壁厚測量。工業(yè)CT技術(shù)能有效的解決我國航空發(fā)動機領(lǐng)域單晶葉片壁厚測量的技術(shù)難題,提高我國航空發(fā)動機使用的安全性和可靠性。

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